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MCU硬件在環(huán)(HiL)仿真測(cè)試系統(tǒng)組成
主要功能
專注電機(jī)控制器功能測(cè)試,為電機(jī)臺(tái)架的功能及性能測(cè)試打下基礎(chǔ)
控制器故障注入及分析在電機(jī)控制器設(shè)計(jì)前期階段即可發(fā)現(xiàn)問題,而無需等到在物理原型上才發(fā)現(xiàn)
執(zhí)行在各種極限條件下測(cè)試
控制算法在線分析,跟蹤調(diào)試
開發(fā)中的測(cè)試故障復(fù)現(xiàn)
可以實(shí)現(xiàn)軟硬件并行開發(fā),縮短開發(fā)周期
在測(cè)試系統(tǒng)建立之前,在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下完成初始化標(biāo)定
可降低開發(fā)測(cè)試成本
可進(jìn)行重復(fù)的自動(dòng)化測(cè)試
技術(shù)先進(jìn)性
PMSM、SRM 和逆變器模型實(shí)現(xiàn)高性能仿真
高保真仿真可支持基于FEA 的JMAG-RT 模型及ANSOFT模型
開放式軟件提供充分的靈活性和定制化
LabVIEW 項(xiàng)目模板用于構(gòu)建軟件仿真應(yīng)用和硬件在環(huán)應(yīng)用
直接集成NI VeriStand,用于基于配置的實(shí)時(shí)測(cè)試
桌面仿真模型、LabVIEW Real-Time 仿真模型和基于FPGA 的仿真模型